製品紹介
MPI TITAN™ シングルエンド & デュアルプローブ
DC〜250 GHz 広帯域プロービングソリューション
次世代RF、ミリ波、高速デジタル対応



MPI Corporationは、30年以上にわたり半導体のテストおよび測定技術の革新を推進してきました。私たちのモットーの通り、お客様が常に『テストに備えられる』よう支援します。
最先端技術と学術的専門知識を融合することで、革新・協力・継続的成長の文化を育んでいます。この相乗効果により、長期的な価値を創出し、お客様が急速に変化するグローバル市場で競争力を維持できるよう支援します。
MPIは、台湾で初めて台北証券取引所(TPEx)に上場したプローブカード企業です。
当社の4つの事業部門が半導体業界の進化するニーズに対応するために、専門知識をどのように結集しているかをご紹介します。部門横断的な協力を通じて、顧客のワークフローを効率化し、技術の限界を押し広げ、あらゆる段階で価値を創出する統合ソリューションを提供します。

開催日: 2026年2月25 - 26日
会場: サンタクララ・コンベンションセンター(米国カリフォルニア州 サンタクララ)
ブース番号: 513
イベント
Published on January 13, 2026

開催日: 2026年3月17 - 19日
会場: ロサンゼルス・コンベンションセンター(米国カリフォルニア州 ロサンゼルス)
ブース番号: 502
イベント
Published on January 10, 2026

開催日: 2026年3月25 - 27日
会場: 上海新国際博覧センター (SNIEC)
ブース番号: N4361(N4 ホール)
イベント
Published on January 7, 2026

Lightium AG, MPI Corporation, and Axiomatic_AI Inc. have entered into a Memorandum of Understanding (MoU) to jointly develop the world’s first Intelligent, Autonomous, and Integrated Test Solution (IAITS)...
ニュース
Published on August 5, 2025

MPI Corporation, a global leader in semiconductor testing solutions, is pleased to announce a landmark partnership with Keysight Technologies, a global innovation partner delivering market-...
ニュース
Published on March 11, 2024

MPI Corporation’s Advanced Semiconductor Test (AST) Division, a pioneer in on-wafer testing solutions, today announced a landmark achievement in RF calibration technology...
ニュース
Published on January 25, 2024

THZ-Selection converts the TS2000-IFE into a dedicated, RF, mmW, THZ and load-pull probe station, as first one on the market without compromising measurement directivity and accuracy at wide temperature range from -60°C to +300°C.
製品情報
Published on January 18, 2023

MPI Corporation’s Advanced Semiconductor Test Division, an industry and innovation leader in semiconductor RF test solutions, demonstrated unattended four-port RF calibration and measurements supported by the new versions of QAlibria® and SENTIO®...
ニュース
Published on December 8, 2022

This eBook is a collection of articles on the various innovations in measurement methods and equipment that has been developed to address these higher frequencies ranging from mmWave up to 1.1 THz. (This eBook was published by Microwave Journal)
ニュース
Published on May 11, 2019

Functional Test, 200C, Production Probe Card
製品情報
Published on May 11, 2019

Modular, -65C to 200C, 48 channel, probe card and adaptor, used for Modeling, Characterization, Parametric Test, and WLR testing
製品情報
Published on May 11, 2019

Cryogenic, 4K and 77K, Positioner Mounted, 22 pin Probe Card
製品情報
Published on May 11, 2019

Modular, -65 to 200C, 100 channel, Probe Card
製品情報
Published on May 11, 2019